垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱訂購(gòu)規(guī)格：

1. SZ-TST4040型：試驗(yàn)架尺寸：W200×D200×H130mm；高/低溫槽尺寸：W400×D400×H400mm；溫度沖擊范圍：-40～150℃

2. SZ-TST4055型：試驗(yàn)架尺寸：W200×D200×H130mm；高/低溫槽尺寸：W400×D400×H400mm；溫度沖擊范圍：-55～150℃

3. SZ-TST5540型：試驗(yàn)架尺寸：W350×D350×H280mm；高/低溫槽尺寸：W550×D550×H550mm；溫度沖擊范圍選擇：-40～150℃

4. SZ-TST5555型：試驗(yàn)架尺寸：W350×D350×H280mm；高/低溫槽尺寸：W550×D550×H550mm；溫度沖擊范圍選擇：-55～150℃

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備原理：

是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依動(dòng)作需要將吊蘭快速移動(dòng)到冷、熱槽內(nèi)，從而達(dá)到快速溫度沖擊效果。平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+特殊設(shè)計(jì)的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)的加熱量等于熱損耗量，故能使系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定的工作。

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)(指水冷式在室溫＋25℃，空載時(shí))：

1. 試驗(yàn)方式：試物移動(dòng)型

2. 高溫槽溫度設(shè)定范圍：60～200℃

3. 高溫槽升溫時(shí)間：RT(室溫)～200℃約需35min

4. 低溫槽溫度設(shè)定范圍：-60℃～-10℃｜-70℃～-10℃

5. 低溫槽降溫時(shí)間：70｜80｜90min

6. 溫度波動(dòng)度：±0.5℃

7. 溫度均勻度：±2.0℃

8. 沖擊恢復(fù)時(shí)間：約需5min(空載)

9. 高/低溫沖擊駐留時(shí)間：各為30min

10. 試驗(yàn)物移動(dòng)時(shí)間：10秒以?xún)?nèi)

11. 試驗(yàn)架尺寸：580×480mm

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.22-2008 idt IEC 60068-2-14:1984 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

2. GJB 150.5-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)與材質(zhì)：

1. 箱體結(jié)構(gòu)：由高溫槽和低溫槽兩部分組成，樣品由吊蘭按設(shè)定要求移動(dòng)到兩槽內(nèi)

2. 箱門(mén)：?jiǎn)紊乳T(mén)，左開(kāi)。附嵌入式平面門(mén)把手

3. 箱體外壁材料：SUS#304霧面線(xiàn)條處理不銹鋼板或碳素鋼板表面靜電噴粉處理

4. 箱體內(nèi)壁材料：SUS#304不銹鋼板

5. 保溫材質(zhì)：硬質(zhì)聚胺脂泡沫和耐高溫玻璃纖維棉

6. 測(cè)試孔：￠25mm，附硅膠塞頭

7. 機(jī)器腳架：箱底裝有可調(diào)式活動(dòng)輪4個(gè)，平水腳4個(gè)

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷凍系統(tǒng)：

1. 制冷壓縮機(jī)：采用歐美原裝進(jìn)口半封閉雙級(jí)制冷機(jī)組

2. 冷卻方式：水冷

3. 制冷劑：R404  R23

4. 制冷輔助件：電磁閥，過(guò)濾器，壓力控制器，油壓控制器等均采用進(jìn)口件

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)：

1. 空氣調(diào)節(jié)方式：強(qiáng)制內(nèi)循環(huán)通風(fēng)，平衡調(diào)溫

2. 空氣循環(huán)裝置：內(nèi)置式循環(huán)風(fēng)道及長(zhǎng)軸軸流通風(fēng)機(jī)

3. 空氣加熱方式：鎳鉻合金絲電加熱器

4. 空氣冷卻方式：多級(jí)膜片式空氣熱交換器

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱測(cè)控顯示系統(tǒng)：

1. 溫度測(cè)量：Pt100鉑電阻

2. 控制裝置：主控制器采用日本優(yōu)易控高精度可編程溫度控制器

3. 顯示裝置：該控制器采用LCD全液晶顯示屏，對(duì)談式的設(shè)定方式，觸控式控制，中英文切換

4. 屏幕可直接觸摸選擇程序設(shè)定、曲線(xiàn)顯示、試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、循環(huán)次數(shù)等

5. 彩色實(shí)時(shí)顯示溫度、時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、曲線(xiàn)等畫(huà)面

6. 同時(shí)具有試驗(yàn)程序自動(dòng)運(yùn)行及PID參數(shù)自整定，故障原因自動(dòng)顯示等功能

7. 具有斷電程序記憶，復(fù)電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能

8. 高低溫沖擊時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償溫度功能

9. 自帶計(jì)算機(jī)USB接口

10. 用戶(hù)程序容量：100段

11. 運(yùn)行方式：程序/恒定運(yùn)行

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱保護(hù)裝置(以下**保護(hù)裝置提示信息均為蜂鳴器報(bào)警)：

1. 加熱器短路

2. 制冷機(jī)過(guò)載

3. 制冷機(jī)超壓

4. 工作室超溫

5. 接地保護(hù)

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要零組件：

1. 閥門(mén)：氣壓式(氣壓：5Kg客戶(hù)須提供氣源)

2. 控制器：原裝進(jìn)口日本OYO或韓國(guó)三元

3. 壓縮機(jī)：原裝進(jìn)口德國(guó)比澤爾或法國(guó)泰康

4. 時(shí)間繼電器：臺(tái)灣

5. 無(wú)熔絲總開(kāi)關(guān)：臺(tái)灣

6. 固態(tài)繼電器：臺(tái)灣

7. 熱繼電器：日本富士

8. 交流接觸器：日本富士

9. 電源按鈕開(kāi)關(guān)：臺(tái)灣

10. 積時(shí)計(jì)：臺(tái)灣

11. 干燒保護(hù)器：意大利

12. 按鈕開(kāi)關(guān)：臺(tái)灣

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱使用條件(由用戶(hù)保證提供)：

1. 電源：AC 380V，三相四線(xiàn)＋保護(hù)地線(xiàn)

2. 場(chǎng)地：周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)影響，附近備有排水地漏

3. 使用環(huán)境：溫度：5℃～35℃；相對(duì)濕度：≤85%RH

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱英文版：

Two slot Cold ＆ Heat Drop Tester

Model: SZ-TST

The programmable thermal shock tester for tester functions of instant heat endurance, cold-endurance Shock Tester. Suitable for quality control of factories of metal, plastic, rubber, electronics etc.

Ⅰ Test Standard:

1. GB 6587.2-1986 電子測(cè)量?jī)x器 溫度試驗(yàn)

2. GB/T 2423.22-2008 idt IEC 60068-2-14:1984 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

3. GJB 150.5-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

Ⅱ Specifications:

垂直兩槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱售后服務(wù)：

1．至現(xiàn)場(chǎng)免費(fèi)安裝、調(diào)試，并培訓(xùn)2～5名操作人員，達(dá)到熟練操作水平

2．所購(gòu)產(chǎn)品除人為或不可抗力之因素外，我公司提供叁年免費(fèi)保修，終身維護(hù)服務(wù)

3．保修期過(guò)后如需更換零配件，我公司只核收成本費(fèi)，無(wú)其它費(fèi)用產(chǎn)生

4．若用戶(hù)通過(guò)服務(wù)電話(huà)溝通不能解決問(wèn)題的，我公司將派出專(zhuān)業(yè)售后人員在48小時(shí)內(nèi)到達(dá)用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行服務(wù)

5．我公司可為用戶(hù)長(zhǎng)期免費(fèi)提供技術(shù)支持、使用說(shuō)明書(shū)、軟件升級(jí)、維護(hù)咨詢(xún)等，并盡可能的將儀器的應(yīng)用、開(kāi)發(fā)方法、前景分析及試驗(yàn)前的樣品處理等告知用戶(hù)